霍莱沃基于应用场景、测试需求及场地实况为客户提供定制化的平面近场丈量系统。系统利用高精度定位设备采集天线近场距离下的幅度、相位信息，通过严格的近远场变换算法获取天线的远场辐射特性和口面场分布。依据定位设备数据采集方向可分为垂直近场扫描与水平近场扫描，系统大幅度缩短了大型相控阵天线、大口径天线的测试距离，实现1GHz至40GHz（110GHz）频率范围内的暗室内丈量。
-10dB副瓣时±0.5dB
-20dB副瓣时±1dB
-30dB副瓣时±1.5dB
©上海霍莱沃电子系统技术股份有限公司版权所有,2007-
沪公网安备 31011502019272号 | 沪ICP备09080598号-2
| 隐私政策
提示
X确认
<i id='38f17'><strike id='29b13'><tt id='4258d'><pre id='a5fb1'></pre></tt></strike></i>