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产品概述

伺服传感器自动化丈量系统主要由上料机构、常温测试机构、高低温测试机构等组成。

主要用于混合集成电路伺服系列电路自动测试，实现伺服系列电路的全参数自动测试及数据存储、计算、分析管理等功能，提高伺服系列电路测试效率及产能，降低人工成本，提高经济效益。

产品特点

集成化高
高效
操作便捷

产品功能

产品正反面信息识别、绑定
端口测试
常温测试
高低温测试

典型指标

信息识别时间＜6s，准确率≥98%
测试效率≥200件
测试机构运动精度≤±0.05mm
温箱满足温控范围-70℃~150℃
温差≤±2℃@（-70℃~100℃）
温差≤±4℃@（100℃~150℃）
温度均匀性≤±2℃；波动度≤±0.5℃
升温时间20℃~150℃≤30min，降温时间20℃~70℃≤50min
满足试验标准GB/T1-2001

应用

电路板、传感器等小型电子元器件性能测试

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